（來源：上觀新聞）

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此外，在??????堆疊式??訪問晶???????體管中，????必須同時(shí)控制復(fù)??雜的可靠性問題????，例如浮體效應(yīng)??（FBE）引起的????電荷損失、????表面粗糙度導(dǎo)致的??遷移率????下降、關(guān)態(tài)漏電?、字線間的????????靜電耦????合以及寄生B??JT激活等??。如果說G???????♂?roq證明了SR???AM架構(gòu)在單卡推??理上的效????率優(yōu)勢，Cere??bras???????則展示???了當(dāng)SRAM容量????足夠大時(shí)，????推理速度可以??逼近何種極??限??。